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求助，怎样测多层结构薄膜样品的断面AFM？？？
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主要是想看清楚不同薄膜层的phase变化而不仅仅是厚度。 薄膜样品是有机的多层复合结构，所以TEM所用的封装切割技术也不能用因为会封装所用的材料会与有机薄膜反应·· 各位有没有这方面的经验，求赐教啊·· |
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 原子力显微镜（AFM）资源及问题集锦 |
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