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求助,怎样测多层结构薄膜样品的断面AFM???
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ateo
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专业: 凝聚态物性 II :电子结构
[
求助
]
求助,怎样测多层结构薄膜样品的断面AFM???
主要是想看清楚不同薄膜层的phase变化而不仅仅是厚度。
薄膜样品是有机的多层复合结构,所以TEM所用的封装切割技术也不能用因为会封装所用的材料会与有机薄膜反应··
各位有没有这方面的经验,求赐教啊··
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1楼
2012-03-05 01:05:29
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ateo
铜虫
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专业: 凝聚态物性 II :电子结构
引用回帖:
楼
:
Originally posted by
mse507
at 2012-03-05 13:13:01:
AFM看不出是否有相变的。看表面形貌还可以,能否看断面取决于断面的粗糙度,抛光以后也许能行,不过测试难度很高。
AFM有phase窗口啊 不同的薄膜层在phase上区别应该是蛮明显的···想了好多办法都不太行得通···诶···
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6楼
2012-03-06 15:54:55
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wangyong832
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专业: 凝聚态物性 II :电子结构
★
aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-05 10:26:32
用AFM看断面的话 是不是有难度?断面粗糙度会不会大了点
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2楼
2012-03-05 10:22:10
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mse507
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感谢参与,应助指数 +1
aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-05 13:31:45
AFM看不出是否有相变的。看表面形貌还可以,能否看断面取决于断面的粗糙度,抛光以后也许能行,不过测试难度很高。
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3楼
2012-03-05 13:13:01
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yuan999
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nofrunolif(金币+1): 欢迎跨版交流 2012-03-06 09:20:57
好像没怎么看到用AFM测试断面的,这个有很大的难度,我觉得可以用FESEM来看吧,把倍数调高点,应该比较明显
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我~心~依~旧
4楼
2012-03-05 19:51:14
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