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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » 求助，怎样测多层结构薄膜样品的断面AFM？？？
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ateo

铜虫 (小有名气)

[求助] 求助，怎样测多层结构薄膜样品的断面AFM？？？

主要是想看清楚不同薄膜层的phase变化而不仅仅是厚度。
薄膜样品是有机的多层复合结构，所以TEM所用的封装切割技术也不能用因为会封装所用的材料会与有机薄膜反应··
各位有没有这方面的经验，求赐教啊··
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1楼 2012-03-05 01:05:29
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wwwhww

铜虫 (正式写手)
★
aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-07 09:11:58
引用回帖:
7楼: Originally posted by ateo at 2012-03-06 15:58:11:
是啊·  最近在APL上看到一个做太阳能电池断面AFM的文章，这个还真是有点技术含量····  恩，FESEM是有看过的··  但还是想看到下断面AFM啊···

如果用AFM测断面的话，我觉得制备断面会有相当大的难度，不大可行
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8楼2012-03-07 09:08:12
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wangyong832

银虫 (著名写手)
★
aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-05 10:26:32
用AFM看断面的话  是不是有难度？断面粗糙度会不会大了点
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2楼2012-03-05 10:22:10
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mse507

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
aishan(金币+1): 鼓励交流 2012-03-05 13:31:45
AFM看不出是否有相变的。看表面形貌还可以，能否看断面取决于断面的粗糙度，抛光以后也许能行，不过测试难度很高。
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3楼2012-03-05 13:13:01
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yuan999

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
nofrunolif(金币+1): 欢迎跨版交流 2012-03-06 09:20:57
好像没怎么看到用AFM测试断面的，这个有很大的难度，我觉得可以用FESEM来看吧，把倍数调高点，应该比较明显
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我~心~依~旧
4楼2012-03-05 19:51:14
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