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songjinlong

铜虫 (正式写手)

[求助] 相信小木虫,审稿人一意见没看懂,又来请教了。(材料,化学)

本人是学机械专业的,研究方向涉及机械、材料、化学,去年审稿人给的一个有关化学方面的问题,我不懂,但请教完小木虫上的高手后,顺利解决了,但这回又有个审稿人提的两个问题不太懂,故想请教小木虫上的高手。
问题1:The authors attribute the morpholgy attained to a preferential dissolution of grain boundaries and dislocations. Assuming that this argument is correct, the density of crystaline grains will be higher in the electrochemically etched surface. XRD measurement on both the pristine and electrochemical etched surfaces or further information from the related literature is necessary to support this argument.
说明:图1为铝经过电化学加工后得到的形貌,我的解释是在外加电场的作用下晶界/位错由于能量比晶粒高发生优先溶解。审稿人要我做腐蚀后的表面和原表面的XRD,我做这个有什么用呢,看什么呢?
问题2:When the authors discuss the mechanism of the hierarchical roughness formation, they should mention what would happen if a single crystal substrate was used (without grain boundaries and dislocations)。请问哪有卖单晶铝的呢?

图1
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Happy
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songjinlong

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
5楼: Originally posted by zhezhelv at 2012-02-22 14:12:11:
XRD测的是物相,有没有新的物相生成,你发生腐蚀了,肯定会有新的物相生成,结合你的扫描电镜,可以知道具体在哪个地方,到底是晶粒内部还是晶界和位错处发生的腐蚀更加强烈,以证明你的观点

就是反应前后,表面应该没有生成新物质的,成分还是原来的铝,如果这样的话,拍出的XRD应该是没有变化的吧
对材料这块,我很弱呀。
Happy
7楼2012-02-22 14:21:36
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zhezhelv

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
songjinlong(金币+1): ★★★很有帮助 2012-02-22 14:02:31
avast2009(金币+5): 鼓励交流 2012-02-22 14:39:56
问题一:审稿人说,你认为在外加电场的作用下晶界/位错由于能量比晶粒高发生优先溶解,他是想让你证明一下为什么。他后面告诉了你证明方法,假设这个论点正确的话,晶粒在腐蚀前和腐蚀后的电化学腐蚀表面的密度会升高,用这个方法可以证明你的观点。或者说拿XRD测腐蚀前后的电化学腐蚀表面,看看物相出现了什么变化,也就是有没有新相生成,如果有的话,也可以证明你的论点。你没证明,他教你怎么证明而已。
问题二:单晶铝我建议你去借一点,找相关做单晶的人,如果买,去阿里巴巴上买?比较贵,而且起卖量比较大,做实验没必要,跟相关学校相关课题组借借吧
以直报怨,以德报德
3楼2012-02-22 13:55:12
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songjinlong

铜虫 (正式写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by zhezhelv at 2012-02-22 13:55:12:
问题一:审稿人说,你认为在外加电场的作用下晶界/位错由于能量比晶粒高发生优先溶解,他是想让你证明一下为什么。他后面告诉了你证明方法,假设这个论点正确的话,晶粒在腐蚀前和腐蚀后的电化学腐蚀表面的密度会 ...

大哥,有一点我不太明白,用XRD可以测腐蚀表面晶粒的密度(或数量)吗,XRD(和谢乐公式结合)不是测的是晶粒的尺寸吗
Happy
4楼2012-02-22 14:00:51
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zhezhelv

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

songjinlong(金币+1): ★★★很有帮助 2012-02-22 14:18:35
XRD测的是物相,有没有新的物相生成,你发生腐蚀了,肯定会有新的物相生成,结合你的扫描电镜,可以知道具体在哪个地方,到底是晶粒内部还是晶界和位错处发生的腐蚀更加强烈,以证明你的观点
以直报怨,以德报德
5楼2012-02-22 14:12:11
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