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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 催化 » 催化剂制备 » 各位，XRD 是不是只要表面的薄物质（厚度微米级以下）都很难检测出来？
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navy062

铜虫 (小有名气)

[交流] 各位，XRD 是不是只要表面的薄物质（厚度微米级以下）都很难检测出来？

我用浸渍提拉法制备出TiO2薄膜之后，XRD测不出，之后我用加涂几层，再去XRD 可以看到有TiO2特征衍射峰。现在我要在TiO2表面涂CdS，XRD 同样也是没有峰出来 ，但有TiO2 的峰，大家觉得是不是因为CdS  在最外层，加上又比较薄的原因导致不出峰呢？有什么办法可以解决了？
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1楼 2011-10-18 15:17:13
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13333

木虫 (正式写手)
★
navy062(金币+3):谢谢参与
XRD一般的分辨率是含量得5%以上 你制备的薄膜主要成分是二氧化钛 硫化镉量应该比较少所以不好测出来 xps应该可以 同时也得首先确定你制备的薄膜里到底有没有硫化镉
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3楼2011-10-19 11:45:21
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penguin1987

银虫 (小有名气)
★
navy062(金币+3):谢谢参与
你的目的是什么？
XRD不出峰，可能晶粒尺寸太小，XRD有个检测尺寸范围的，说明分散性能好，
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2楼2011-10-19 10:33:23
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sllalei

木虫 (著名写手)
★
navy062(金币+3):谢谢参与
直接做EDS啊。。为什么非要做XRD呐？
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5楼2011-10-19 13:14:20
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navy062

铜虫 (小有名气)
引用回帖:
3楼: Originally posted by 13333 at 2011-10-19 11:45:21:
XRD一般的分辨率是含量得5%以上 你制备的薄膜主要成分是二氧化钛 硫化镉量应该比较少所以不好测出来 xps应该可以 同时也得首先确定你制备的薄膜里到底有没有硫化镉

我想最好能在XRD上也能显示出想要的结果，再配合其它的测试验证这一说明，这样文章更有说服力点。但是，现在问题是薄膜的厚度太薄带来的问题在做XRD，PL表征的时候,出现了基板峰严重干扰测试峰的现象，不知道该怎么更好的解决。
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6楼2011-10-19 19:41:25
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