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用什么参数来表征 晶粒内晶格缺陷的多少 ?
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用什么参数来表征 晶粒内晶格缺陷的多少 ?
一直没搞明白一个问题, 导师非要说结晶度(晶化度)是表示晶体内晶格缺陷多少的物理量,而我经过征求大家意见和资料论证,结晶度就是结晶的程度,就是结晶部分的重量或体积对全体重量或体积的百分数。其中的全部重量包括结晶和无定形的重量。
那么现在能用什么参数或者物理量,来表征晶粒内部缺陷的多少?
我的目的是想用一个物理量来表征无机多晶体粉末内部缺陷的多少
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2011-09-14 13:00:47
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5楼
:
Originally posted by
一剑飘香
at 2011-10-11 13:30:11:
你好,你说的非常有道理。我真的很急,和很多人讨论,一直找不到有效的表征方法。请问你有荧光和XRD分析缺陷这方面的资料吗?我信箱
byma8@126.com
QQ是631603387
不胜感激
你好,我手上也没有,都是听人说的。
不如你找本材料的基础书籍或者材料表征的书籍来看,我没有什么现成的资料。
若是某种具体的材料,相对应的书更有针对性。
祝你好运~~
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i-love-photovoltaic-cell
6楼
2011-10-11 15:40:52
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一剑飘香(金币+3): 2011-10-11 04:31:56
zhangquan8385(金币+1): 鼓励,能说说理由么,为啥这么猜呢 2011-10-11 08:36:28
我猜 荧光或者XRD的张力分析可以
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2楼
2011-10-10 20:01:31
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2楼
:
Originally posted by
justinzhao
at 2011-10-10 20:01:31:
我猜 荧光或者XRD的张力分析可以
能说具体点吗?比如可能的物理机理,多谢
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3楼
2011-10-11 04:31:33
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Missile521(金币+2): 斑斑威武,欢迎常来~ 2011-10-11 09:52:36
一剑飘香(金币+2): 2011-10-11 13:27:11
引用回帖:
3楼
:
Originally posted by
一剑飘香
at 2011-10-11 04:31:33:
能说具体点吗?比如可能的物理机理,多谢
荧光,是表征缺陷的一种技术,发光可以推测晶格内的缺陷,缺陷态密度,能态位置等信息。
XRD的峰展宽一种因素是晶格张力的作用。因此通过半峰宽,扣除晶粒大小和仪器展宽就可以得到晶格张力信息。
我也是知道一点点,所以猜下,具体的测试没做过
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4楼
2011-10-11 09:37:49
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