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一剑飘香

铁虫 (正式写手)

[求助] 用什么参数来表征 晶粒内晶格缺陷的多少 ?

一直没搞明白一个问题, 导师非要说结晶度(晶化度)是表示晶体内晶格缺陷多少的物理量,而我经过征求大家意见和资料论证,结晶度就是结晶的程度,就是结晶部分的重量或体积对全体重量或体积的百分数。其中的全部重量包括结晶和无定形的重量。

那么现在能用什么参数或者物理量,来表征晶粒内部缺陷的多少?
我的目的是想用一个物理量来表征无机多晶体粉末内部缺陷的多少
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一剑飘香

铁虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by justinzhao at 2011-10-10 20:01:31:
我猜 荧光或者XRD的张力分析可以

能说具体点吗?比如可能的物理机理,多谢
3楼2011-10-11 04:31:33
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一剑飘香

铁虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by justinzhao at 2011-10-11 09:37:49:
荧光,是表征缺陷的一种技术,发光可以推测晶格内的缺陷,缺陷态密度,能态位置等信息。

XRD的峰展宽一种因素是晶格张力的作用。因此通过半峰宽,扣除晶粒大小和仪器展宽就可以得到晶格张力信息。

我也是知 ...

你好,你说的非常有道理。我真的很急,和很多人讨论,一直找不到有效的表征方法。请问你有荧光和XRD分析缺陷这方面的资料吗?我信箱byma8@126.com QQ是631603387
不胜感激
5楼2011-10-11 13:30:11
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