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zcy800204

金虫 (正式写手)

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[交流] 同一型号的仪器，不同的探测器，得到的数据相差这么大

同一型号的仪器(D8-ADVANCE)，不同的探测器(一个是闪烁计数器，一个是固体探测器)，得到的数据咋相差这么大呢，由于采用闪烁计数器时无法排除荧光、白光等干扰，尤其是含铁元素，得到的衍射峰很弱，而采用固体探测器，衍射峰比较强。真能相差这么大啊？碰到这种情况的举个手！！！！！！！！！！！！！！！！！！
图中红色是采用固体探测器测的，黑色线是采用闪烁计数器测的

[ Last edited by zcy800204 on 2011-5-31 at 09:56 ]

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1楼 2011-05-30 20:55:09

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xhtangxh

木虫 (著名写手)

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drg1984(金币+1, CMEI+1): 回答很给力啊！绝对的高手！！！ 2011-05-31 10:33:08
zcy800204(金币+5): 2011-05-31 10:36:47
zcy800204(金币+5): 2011-05-31 11:07:53

这非常正常。
用闪烁计数器时通常要配合使用Kβ滤波片或单色化器，一般能直接使Kα信号降低1/3以上，而固体探测器不需要，同时如果能量窗口选择较宽(只要保证能有效屏蔽Kβ信号和荧光信号)，Kα信号检测效率能高达96%以上。
但Kβ滤波片不能完全滤除荧光信号，因此用闪烁计数器时获得的信号强度以Kα和荧光加合为主。对于Cu靶，含Fe样品有较强的荧光效应，有荧光干扰，所以Kα衍射信号分辨率很差。
对于含Fe样品，采用Cu靶时可以用石墨单色化器替代Ni滤波片处理，也可以采用Fe靶等其它靶材配相应的Kβ滤波片，虽然强度稍低但分辨率会大幅提高。

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2楼2011-05-31 10:09:33

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zcy800204

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如果狭峰选择大一些，能量强一些，信号强一些，但分辨率差一些，那对探测器伤害影响大不大？

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3楼2011-05-31 11:07:20

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xhtangxh

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对探测器伤害怎么评价呢？任何探测器的设计原理基本都是基于光电倍增效应，原则上光信号对半导体材料都会有损害，就像门安装好了终归会坏一样，只不过经常拍打的门坏得快些罢了。
不同探测器有不同的线性范围，信号强度在上限以下不会造成严重伤害或所谓"永久性损伤"，但也会积劳成疾的；而如果超过上限，则可能会造成短时难以恢复的伤害甚至物理损害。
决定分辨率的因素较多，不过对于同一个试样，仪器(光源及探测器)稳定性、狭缝宽度、探测器类型及测试方式(反射或透射、样品静止或旋转)都会有影响。

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4楼2011-05-31 17:02:20

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