[交流] 请教能否用TEM直接测试沉积在硅片上银膜的形态？

Originally posted by fengye0909 at 2011-03-13 12:43:41:
硅基底可以直接在SEM上观察样品形态，不知能否直接在TEM上观测其表面形态？
目前，我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况，我没有用过TEM，请知情者赐教！非常感谢！

Originally posted by fengye0909 at 2011-03-13 12:43:41:
硅基底可以直接在SEM上观察样品形态，不知能否直接在TEM上观测其表面形态？
目前，我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况，我没有用过TEM，请知情者赐教！非常感谢！

Originally posted by vmuch520 at 2011-03-13 12:56:06:
当然不能。。。硅片那么厚，电子怎么透过去？
我没做过这玩意儿，说个方法供你参考吧。。。不知道可行不
不知道你的银膜，对基底的要求严格不？还有银膜有多厚？
如果不的话，可以这么做，先在基底上旋涂上一 ...

Originally posted by fengye0909 at 2011-03-13 12:43:41:
硅基底可以直接在SEM上观察样品形态，不知能否直接在TEM上观测其表面形态？
目前，我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况，我没有用过TEM，请知情者赐教！非常感谢！

Originally posted by gxljp0305 at 2011-04-11 17:19:32:
请问一下，你是在哪买的硅基底？是什么规格的？

Originally posted by fengye0909 at 2011-04-11 22:09:25:
哦 不好意识 我用的硅片是实验室其他同学买的 所以具体规格情况我不清楚 我只知道本来是很大一块 像镜子一样 用时划开即可