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fengye0909(金币+8, 博学EPI+1): 2011-03-14 08:16:00
引用回帖:
Originally posted by fengye0909 at 2011-03-13 12:43:41:
硅基底可以直接在SEM上观察样品形态,不知能否直接在TEM上观测其表面形态?
目前,我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况,我没有用过TEM,请知情者赐教!非常感谢!

当然不能。。。硅片那么厚,电子怎么透过去?
我没做过这玩意儿,说个方法供你参考吧。。。不知道可行不
不知道你的银膜,对基底的要求严格不?还有银膜有多厚?
如果不的话,可以这么做,先在基底上旋涂上一层聚合物薄膜,再在上面生长银膜,再溶剂中把聚合物溶去,用铜网把银膜捞起。。。
2楼2011-03-13 12:56:06
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