[交流] 请教能否用TEM直接测试沉积在硅片上银膜的形态？

硅基底可以直接在SEM上观察样品形态，不知能否直接在TEM上观测其表面形态？
目前，我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况，我没有用过TEM，请知情者赐教！非常感谢！

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1楼 2011-03-13 12:43:41

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fengye0909

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Originally posted by vmuch520 at 2011-03-13 12:56:06:
当然不能。。。硅片那么厚，电子怎么透过去？
我没做过这玩意儿，说个方法供你参考吧。。。不知道可行不
不知道你的银膜，对基底的要求严格不？还有银膜有多厚？
如果不的话，可以这么做，先在基底上旋涂上一 ...

哦，明白了。我看文献中有用TEM表征的，或许他们是用切片的的方法！你的建议很不错，可以参考！谢谢！