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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】急！！！用什么手段可以测量厚度
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alyx926

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】急！！！用什么手段可以测量厚度

我想测量沉积在玻璃上的量子点的厚度，看其是否为单层，该用什么手段呢？
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1楼2010-11-18 15:58:50
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liushanshan

新虫 (正式写手)
alyx926(金币+5): 2010-11-19 16:22:54
做一个断面的SEM应该可以吧
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11楼2010-11-19 14:18:55
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wandaohzl

荣誉版主 (著名写手)
可以用TEM看看是不是单层  有薄膜测厚仪
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2楼2010-11-18 20:23:35
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alyx926

金虫 (正式写手)
wandaohzl:那就像他们说的AFM 2010-11-19 09:19:27
引用回帖:
Originally posted by wandaohzl at 2010-11-18 20:23:35:
可以用TEM看看是不是单层  有薄膜测厚仪

谢谢了哈。做TEM的时候要求基底导电，必须在样品的表面喷金，使得量子点被覆盖了，很难辨别。薄膜测厚仪能测量十几纳米的厚度吗，对样品有什么特殊的要求没？
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3楼2010-11-18 22:06:20
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alyx926

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by leeshao at 2010-11-19 09:02:04:
AFM,

我用AFM试过了，可是基底全被量子点覆盖了，不能测厚度了。如果用AFM，可以有改进的方法吗？
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6楼2010-11-19 12:01:07
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