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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 催化 » 表征 » 【讨论】xps能测到分子筛孔道内的元素吗？
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yingguang

新虫 (小有名气)

[交流] 【讨论】xps能测到分子筛孔道内的元素吗？ 已有12人参与

如题，请高手指教。
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1楼 2010-08-09 15:33:25
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zyhou

专家顾问 (文坛精英)
★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖交流
zhangwengui330(金币+2):正解！！ 2010-09-01 22:18:36
单独的XPS是一种表面灵敏的检测技术。如果想测量内部孔道内的元素，可以采用原位的激光溅射技术剥离大约10纳米后的表面层，这样孔道里面的元素就有可能被检测到！香港大学有这样的设备，我曾经做过两个样品，结果还可以！
具体操作可以参考：
Applied Catalysis A: General, Volume 352, Issues 1-2, 15 January 2009, Pages 259-264
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8楼2010-08-11 12:04:02
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jinkai838

木虫 (著名写手)
★
yingguang(金币+1):谢谢参与
yingguang(金币+1): 2010-08-09 16:34:04
不能，因为按照XPS的原理来说，它只能是表面分析，测定范围是2-5nm
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斜杠青年
2楼2010-08-09 16:15:47
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cosmicking

木虫 (正式写手)
★
yingguang(金币+1):谢谢参与
^_^@^_^:应该可以的吧，孔的内表面并不是完全密封的，如从孔口方向就可以测出 2010-08-11 11:36:49
SBA-15孔道内表面上的过度金属XPS能测出吗，是不是信号较弱
赞一下(2人) 回复此楼
3楼2010-08-09 21:42:36
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americanyk

荣誉版主 (文坛精英)

Excellent

优秀版主
★
yingguang(金币+1):谢谢参与
yingguang(金币+1): 2010-08-10 21:45:52
It is impossible, it can just measure the surface. The exact amount of metal can be exactly measured by EDX.
赞一下(1人) 回复此楼
4楼2010-08-09 22:24:07
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