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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 专业学科区 » 物理 » 凝聚态物理 » 【交流】测量半导体薄膜的带隙
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jinlujie

新虫 (正式写手)
引用回帖:
2楼: Originally posted by hezongl at 2010-05-27 19:32:32
一种测量半导体薄膜材料光学带隙的新方法
申请号/专利号： 200910089681
本发明属于半导体薄膜检测领域，特别涉及一种测量半导体薄膜材料光学带隙的方法。本发明从结果拟合角度对透射和反射光谱进行解谱分析，求出 ...

专利链接不能用了，能不能再给发一个呢？
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21楼2014-07-17 17:49:14
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enmfve

木虫 (小有名气)

小白
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
6楼: Originally posted by cord at 2010-05-28 00:26:45
光热偏转谱（PDS）可以测试，不受衬底的影响。

你好，光热偏转谱PDS在哪可以测试啊？
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hoping
22楼2014-11-24 16:37:58
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