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跳跳虎314

铁虫 (初入文坛)

[求助] 请教Bruker D8 ADVANCE测试薄膜材料时出现的杂峰 已有2人参与

在使用Bruker D8 ADVANCE测试薄膜样品的XRD时发现有很多杂峰,比如单晶STO(001)衬底在2θ=41.8°、44.4°、44.7°处分别出现杂峰。我自己算了一下,41.8°的峰对应的是Cu的Kβ1波长打出来的002峰,但其他两个杂峰不清楚来源于哪里。
这种杂峰会伴随着Kα主峰周期性出现,所以我怀疑是与X射线的波长有关,相同的情况也可见于MgO衬底。在其他文献中使用Bruker D8测试的好像很多都会出现这种情况。
另外感觉这个这个仪器不太好用,比如STO的002峰竟然会明显分裂成Kα1、Kα2和两个波长平均后的峰,我送出去用其他的薄膜XRD设备测试就不会出现这种情况。不知道是我测试方法的问题,还是设备自带的问题?@jackdeng@lich666
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rlafite

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
你提到的杂峰(41.8°、44.4°、44.7°)与 Kα 主峰周期性出现,这种现象很典型,可能与Cu 靶 X 射线的多种波长成分有关:

Kβ 辐射:你已经确认 41.8° 对应的是 Cu Kβ1(λ ≈ 1.3922 Å)。

Kα1/Kα2 双峰效应:Bruker D8 ADVANCE 的光学系统可能没有很好的单色化,导致 **Kα1(λ ≈ 1.5406 Å) 和 Kα2(λ ≈ 1.5444 Å)**分开,甚至出现 Kα1、Kα2 和 Kα 平均后的混合峰。

高次衍射或荧光效应:44.4° 和 44.7° 可能是其他高次衍射或由于衬底的荧光效应引起的。
2楼2025-04-04 00:29:23
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rlafite

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

Bruker D8 ADVANCE 在某些实验条件下,可能会有杂散 X 射线,来源包括:

W Lα 杂散峰(如果 X 射线管靶材中有 W 杂质)。

高阶反射,例如:

STO(002) Kα1 的二阶反射 (004) 可能导致 44.4° 附近的杂峰。

MgO(002) 也可能出现类似的杂峰,说明这是 Bruker D8 的系统性问题。

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3楼2025-04-04 00:30:30
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跳跳虎314

铁虫 (初入文坛)

送红花一朵
引用回帖:
3楼: Originally posted by rlafite at 2025-04-04 00:30:30
Bruker D8 ADVANCE 在某些实验条件下,可能会有杂散 X 射线,来源包括:

W Lα 杂散峰(如果 X 射线管靶材中有 W 杂质)。

高阶反射,例如:

STO(002) Kα1 的二阶反射 (004) 可能导致 44.4° 附近的杂峰。 ...

大佬,真的感激不尽!!!烦请您再看一下这个图。这个是在STO上生长的样品,主峰都很明显。我有几个问题,(1)为什么Kβ射线的衍射峰会又细又高?为什么Kα射线的衍射峰展宽这么大?STO002的峰已经展宽到覆盖我的样品峰了。这是射线本身性质决定的吗?
(2)STO的004不应该会跟随周期排列到更高的角度吗?为什么会成为伴随主峰周期出现的杂峰?
(3)如果Kα1和Kα2分裂峰,甚至出现两个波长叠加的Kα峰,导致在主峰尖端出现三个峰,这样的数据是否可用?
(4)为什么只有STO衬底会出现Kβ的杂峰,而我上面生长的单晶薄膜样品不会受到Kβ影响?
请教Bruker D8 ADVANCE测试薄膜材料时出现的杂峰


发自小木虫手机客户端
4楼2025-04-05 00:03:44
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rlafite

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

Kβ射线的衍射峰通常比Kα的更窄且强度相对集中,这是由Kβ射线的物理性质决定的。Kβ射线是由原子内层电子跃迁(例如从M壳层到K壳层)产生的单一能量X射线,因此它本质上是单色性较强的谱线。单色性强意味着波长分布窄,光谱纯度高,在衍射实验中表现为峰形较尖锐、宽度较小。至于“又高”,这可能与你的实验条件(如滤波器选择或探测器灵敏度)有关,但通常Kβ的强度比Kα低,除非未使用滤波器(如Ni滤片)来压制Kβ。
Kα射线实际上是由Kα1和Kα2两条谱线组成的双重线(例如对于Cu靶,Kα1波长约为1.5406 Å,Kα2约为1.5444 Å)。这两条谱线的波长非常接近,但并非完全重合。在低分辨率仪器中,它们可能表现为一个较宽的峰,而在高分辨率条件下,你可能会看到Kα1和Kα2的分裂。这种双重性导致Kα峰的自然展宽。此外,样品本身的因素(如晶粒大小、应力、缺陷等)也会进一步加剧峰的展宽,但这不是射线本身性质,而是样品和仪器效应的叠加。
STO(SrTiO3,锶钛酸盐)是一种常见的衬底材料,它的002峰(假设使用Cu Kα辐射,2θ约为46.5°附近)展宽到覆盖你的样品峰,可能不是完全由射线本身性质决定的,而是以下因素共同作用的结果:

Kα双重线效应:如上所述,Kα1和Kα2的微小波长差会导致峰形展宽。如果你的样品峰和STO的002峰位置接近,这种展宽可能掩盖样品信号。
仪器分辨率:XRD仪器的光路设计(如单色器、狭缝宽度)和探测器性能会影响峰宽。如果没有使用单色器去除Kα2,峰会更宽。
样品与衬底的相互作用:如果你的样品是外延生长的薄膜,样品峰和衬底峰可能由于晶格匹配或应力而靠得很近,导致重叠。
Kβ未被滤除:如果实验中未使用滤波器,Kβ峰(对于Cu靶,2θ位置比Kα偏低约10°)可能也会干扰你的测量,虽然这通常不直接影响002峰的重叠问题。
是射线本身性质决定的吗?
部分是,但不完全是。Kβ的单色性和Kα的双重线特性是射线本身的固有性质,确实会影响峰形。但“STO002峰展宽到覆盖样品峰”更多是实验条件(仪器分辨率、滤波器使用情况)和样品特性(晶体质量、峰位接近性)的综合结果,而不仅仅是射线本身。
5楼2025-04-06 03:55:40
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rlafite

木虫 (正式写手)

STO的004峰理论上应该按周期性规律出现在更高角度(如101.5°),而不是作为杂峰伴随主峰。如果你观察到的“004峰”是低角度的周期性杂峰,很可能是Kβ射线、薄膜超结构或仪器效应的结果,而非真正的004峰。这不是射线本身性质的直接决定,而是实验条件和样品状态的综合影响。

如果你能提供更多实验细节(如2θ的具体位置、靶材、是否有滤波器),我可以进一步帮你分析!
6楼2025-04-06 04:00:15
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rlafite

木虫 (正式写手)

这种“三个峰”的现象本质上是仪器和射线性质的反映,而不是样品本身的问题。Kα1和Kα2的双重线是X射线管的固有特性,无法完全避免。出现三个峰说明你的仪器分辨率较高,能部分分辨Kα1和Kα2,但又不足以完全分开它们。这种情况在单晶衬底(如STO)或高质量薄膜样品中更常见,因为它们的峰本身就很窄。
“主峰尖端出现三个峰”的数据是否可用,取决于你的具体需求:

如果只是粗略确认峰位或晶相,数据完全可用。
如果需要精确的峰形或强度分析,这种数据可能需要处理(如剔除Kα2)或重新测量。
从科学角度看,这种现象是正常的物理效应,不是实验错误。只要你理解其成因并根据目标调整分析方法,数据仍然有价值。如果后续分析中需要更干净的峰形,建议优化实验条件(如加单色器)或通过软件矫正
7楼2025-04-06 04:01:57
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rlafite

木虫 (正式写手)

STO衬底出现Kβ杂峰是因为其高晶体质量、厚度和强散射能力放大了Kβ的衍射信号。而单晶薄膜样品未受Kβ明显影响,主要是因为薄膜厚度小、散射信号弱,且其峰可能被衬底信号掩盖或因峰宽化而不明显。这不是薄膜完全不受Kβ影响,而是Kβ对薄膜的贡献在实验中难以检测。
8楼2025-04-06 04:03:35
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Terbium_65

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

你的数据中有几点疑问:1、你没有substrate的衍射信息;2;现在的衍射仪光源前面基本上都配备了单色器,出现β谱的强度会非常弱,不太可能通过衍射放大β;3、建议你用高分辨双晶衍射仪测试分别测试衬底和薄膜的xrd。另外补充一下,据我所知STO单晶一般是火焰法生长的,单晶的质量较差。
9楼2025-08-01 21:16:56
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