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【求助】XPS和EDX有什么区别
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| 在表面元素测定方面,XPS和ESX有什么区别? |
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两者都是用单色的X射线照射样品,不同的是XPS主要检测光致电离产生的光电子,而只有深度很浅范围内产生的光电子才能逸出表面,经能量分析仪分析光电子的动能,根据测得的光电子的动能和某种动能光电子的数量,定性定量分析样品存在的元素和数量。而EDX主要是检测样品被X射线照射后产生的特征X射线,通过液氮冷却的半导体探测器(高分辨)或正比计数器或闪烁计数器(低分辨)检测特征X射线的频率和强度,进而分析样品的元素和元素含量。 因此两者的区别在于:1、检测范围差别:XPS表层5-10nm,EDX样品表面100-1000nm深度;2、XPS精度高、EDX精度一般 |
16楼2009-07-15 13:10:57

2楼2009-06-25 10:54:19
whzg
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5楼2009-06-25 18:03:11
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6楼2009-06-26 01:27:49
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7楼2009-06-26 21:34:26
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