| 查看: 869 | 回复: 6 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
[交流]
【求助】[求助]如何用XRD测薄膜的厚度和密度?
|
|||
|
看到一篇文献上说用XRD测薄膜的厚度和密度,具体不知道是怎么测量、分析的,请问这里有没有人知道或做过这种测试。谢谢大家 ! 应该没看错吧?The structure of the films was studied by X-ray refraction (XRD) using a Siemens D5000 diffractometer with Cu Kα radiation (λ=1.5418A) which was also used to perform the X-ray reflection measurements to determine the thickness and the density of the films.这句话在第二页右上图的下边。不知我是否理解错误,请大家指点。谢谢 [ Last edited by daling8210 on 2009-4-3 at 18:56 ] |
» 猜你喜欢
关于filecode,很负责任的告诉大家
已经有7人回复
【2027博士申请】纳米药物递送方向
已经有5人回复
关于豆爷回答的JTJC与%2F数量
已经有7人回复
2026国自然放榜时间
已经有3人回复
国基金的申报应该改成非等额制,评价高的钱多评价低的钱少,但是增加资助率
已经有7人回复
好奇怪的filecode
已经有4人回复
售SCI文章,我:8O5.5.1.O.54,科目齐全,可+急
已经有4人回复
售SCI一区T0P文章,我:8.O.55.1.O54,科目全,可伽急
已经有4人回复
售SCI文章,我:8O.5.5.1O.54,科目全,可十急
已经有4人回复
售SCI一区T0P文章,我:8.O.55.1.O.54,科目齐全,可+急
已经有5人回复
7楼2009-04-05 15:31:45
2楼2009-04-03 15:48:07
4楼2009-04-04 14:00:18
5楼2009-04-04 14:04:23










回复此楼