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【求助】[求助]如何用XRD测薄膜的厚度和密度？
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看到一篇文献上说用XRD测薄膜的厚度和密度，具体不知道是怎么测量、分析的，请问这里有没有人知道或做过这种测试。谢谢大家 ！ 应该没看错吧？The structure of the films was studied by X-ray refraction (XRD) using a Siemens D5000 diffractometer with Cu Kα radiation (λ=1.5418A) which was also used to perform the X-ray reflection measurements to determine the thickness and the density of the films.这句话在第二页右上图的下边。不知我是否理解错误，请大家指点。谢谢 [ Last edited by daling8210 on 2009-4-3 at 18:56 ] |
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