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hypo1985

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】SEM制样问题

各位大虾,我做的是sic陶瓷,想同时观察试样得断口形貌及抛光表面,请问可以将试样做成一半是断口,一半是抛光面的吗?还有就是一般制备陶瓷试样的断口,都是通过什么方法获得的啊?先谢了。

[ Last edited by ufoer on 2009-4-23 at 08:11 ]
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hui_jun_li

木虫 (正式写手)

★ ★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-23 08:30
hypo1985(金币+2,VIP+0):非常感谢您,还请继续指导 4-23 19:25
原则上是可以的,但是请注意,观察断口要用二次电子成像, 而抛光样品主要用背反射电子成像.
3楼2009-04-23 08:19:53
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seaheart_yu

金虫 (小有名气)

★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-23 08:10
hypo1985(金币+1,VIP+0):非常感谢您 4-23 19:25
用切割机将样品切一点,再掰开就可以了
2楼2009-04-23 00:43:39
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03yibing

木虫 (小有名气)


闪闪红心(金币+1,VIP+0):积极回复,谢谢! 4-23 10:46
同行啊
建议可否考虑做两个同样的小试样,一个断口,一个抛光,当然断口的要用切割机切开就可以,这样在SEM时,将这两个小试样同时放在样品池上,就可以实现你的目的了。
不知道可以吗?
一起探讨,共同进步!扬帆同行,分享快乐...
4楼2009-04-23 08:43:28
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hypo1985

银虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by hui_jun_li at 2009-4-23 08:19:
原则上是可以的,但是请注意,观察断口要用二次电子成像, 而抛光样品主要用背反射电子成像.

谢谢!想问下为什么看抛光面要用背反射电子成像呢?那我们之前都是用的二次电子成像看,难道都搞错了?
5楼2009-04-23 19:24:45
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