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hypo1985

银虫 (小有名气)

[交流] 【求助】SEM制样问题

各位大虾,我做的是sic陶瓷,想同时观察试样得断口形貌及抛光表面,请问可以将试样做成一半是断口,一半是抛光面的吗?还有就是一般制备陶瓷试样的断口,都是通过什么方法获得的啊?先谢了。

[ Last edited by ufoer on 2009-4-23 at 08:11 ]
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seaheart_yu

金虫 (小有名气)

★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-23 08:10
hypo1985(金币+1,VIP+0):非常感谢您 4-23 19:25
用切割机将样品切一点,再掰开就可以了
2楼2009-04-23 00:43:39
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hui_jun_li

木虫 (正式写手)

★ ★ ★
ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-23 08:30
hypo1985(金币+2,VIP+0):非常感谢您,还请继续指导 4-23 19:25
原则上是可以的,但是请注意,观察断口要用二次电子成像, 而抛光样品主要用背反射电子成像.
3楼2009-04-23 08:19:53
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03yibing

木虫 (小有名气)


闪闪红心(金币+1,VIP+0):积极回复,谢谢! 4-23 10:46
同行啊
建议可否考虑做两个同样的小试样,一个断口,一个抛光,当然断口的要用切割机切开就可以,这样在SEM时,将这两个小试样同时放在样品池上,就可以实现你的目的了。
不知道可以吗?
一起探讨,共同进步!扬帆同行,分享快乐...
4楼2009-04-23 08:43:28
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hypo1985

银虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by hui_jun_li at 2009-4-23 08:19:
原则上是可以的,但是请注意,观察断口要用二次电子成像, 而抛光样品主要用背反射电子成像.

谢谢!想问下为什么看抛光面要用背反射电子成像呢?那我们之前都是用的二次电子成像看,难道都搞错了?
5楼2009-04-23 19:24:45
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xulinglin

金虫 (小有名气)


ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-23 20:09
背散射电子成像是看元素分布的,原子序数越大,图像越暗
6楼2009-04-23 19:41:33
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278977824

金虫 (正式写手)


闪闪红心(金币+1,VIP+0):谢谢交流! 4-29 17:40
那得看你做抛光面扫描想看什么东西了,观察目的不同,选择的入射束也不同,而且各个入射束的分辨率也不一样。断口形貌是二次电子像。
7楼2009-04-29 16:10:17
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beiniao

金虫 (著名写手)


ufoer(金币+1,VIP+0):谢谢交流 4-30 21:26
从中间分开,一半做断口,另一半用金相试纸制作抛光面,做个金相试验就行了
快乐每一天
8楼2009-04-30 14:30:26
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sem1233

木虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by hui_jun_li at 2009/4/23 08:19:
原则上是可以的,但是请注意,观察断口要用二次电子成像, 而抛光样品主要用背反射电子成像.

受教了。
你很好!~
9楼2009-06-26 10:50:57
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jchchen

木虫 (著名写手)

抛光面我一直就是用的二次电子像没什么问题啊。
10楼2009-06-26 11:39:47
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