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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 功能薄膜 » 椭偏仪的功能
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wtm_AE

金虫 (小有名气)

[交流] 椭偏仪的功能

最近在研究椭偏仪，我大概的总结了它的用途：
能在任何材料衬底上测量各种单层或多层膜；
对膜层厚度没有限制,可以薄至1纳米,厚至几百微米；
可以一次测量测出多层膜的膜厚及折射率；
因能一次测量采集数百组椭偏参数Psi及Del，光学重要性较反
射率R强，因此测量精度属于最高量级；
操作简单，能一键完成测量，测量时间2秒；
超高灵敏的背照式CCD光谱仪、高信噪比；

还有其它的用途吗？
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1楼 2016-03-10 11:43:09
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xdonqi

铜虫 (初入文坛)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
哇，请问楼主你们的椭偏仪型号啊？数据采集只需2秒？之后需要对psi和del拟合得出薄膜厚度及其他的光学参数吗？
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11楼2016-07-02 12:20:50
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