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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 晶体解析 » 求助测半导体禁带宽度的方法
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zw15101

新虫 (初入文坛)

[求助] 求助测半导体禁带宽度的方法 已有2人参与

因为衬底与薄膜材料的禁带宽度太接近，用光度计法测出来的是衬底的带隙，而本征的薄膜材料电阻极高，所以用变温热电导或者霍尔也测不出来数据，求问还有其他方法吗？

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1楼 2015-12-16 07:56:45
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chenhaibin12

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

Optical band gap and valence band maximum were determined based on reflectance and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS) measurements
在一篇论文上见到的，不知道你做的是哪种材料，你可以试试
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5楼2016-01-22 22:15:54
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dorrnm

金虫 (小有名气)
同关注，帮你顶一下

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2楼2015-12-16 08:26:43
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zw15101

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by dorrnm at 2015-12-16 08:26:43
同关注，帮你顶一下

谢谢哈

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3楼2015-12-16 09:47:51
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robotcup

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

椭偏仪？这个今天开会听说好像可以，我在看看笔记
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4楼2016-01-22 20:57:42
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