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求助测半导体禁带宽度的方法 已有2人参与
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因为衬底与薄膜材料的禁带宽度太接近，用光度计法测出来的是衬底的带隙，而本征的薄膜材料电阻极高，所以用变温热电导或者霍尔也测不出来数据，求问还有其他方法吗？ 发自小木虫IOS客户端 |
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