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请教：小角度峰分析
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liuhaifeng7758
木虫 (正式写手)
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warlen(金币+1,VIP+0):3Q，欢迎常来晶体！
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不客气。介孔材料一般做的应该是小角度衍射，因为如果介孔材料（包括粉末或薄膜）中的介孔有序排列的话，则其XRD谱图上约1-2度会出现衍射峰，也就是说介孔排列的周期约3-4nm左右，故采用低角度衍射来判断其有序或无序。 小角度掠射主要是针对薄膜材料采用普通衍射所获样品X射线衍射谱线中基底材料的特征衍射峰一般较强，尤其是结晶程度好的单晶硅、陶瓷等基底；由于薄膜材料与基底的含量之比悬殊，常使薄膜样品XRD图谱中膜层的特征衍射峰强度很弱，甚至缺失；这给薄膜样品的物相、晶粒度大小、晶胞参数等分析带来了很大的困难。因此，使X射线在照射样品时以一很小的角度，增大了膜的信息，而极大减少基底的信息。当然，还有测试反射率、厚度的用途，称为XRR，楼上可以查阅相关的文献再消息了解。 小角散射看 吉林科学技术出版社 孟昭富 的《小角X射线散射理论及应用》 |
6楼2008-11-12 14:23:56
2楼2008-09-21 21:20:05
3楼2008-11-12 10:54:50
liuhaifeng7758
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金玉其中
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4楼2008-11-12 11:21:12
