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请教:小角度峰分析
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2楼2008-09-21 21:20:05

3楼2008-11-12 10:54:50
liuhaifeng7758
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4楼2008-11-12 11:21:12

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warlen(金币+1,VIP+0):3Q,欢迎常来晶体!
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不客气。介孔材料一般做的应该是小角度衍射,因为如果介孔材料(包括粉末或薄膜)中的介孔有序排列的话,则其XRD谱图上约1-2度会出现衍射峰,也就是说介孔排列的周期约3-4nm左右,故采用低角度衍射来判断其有序或无序。 小角度掠射主要是针对薄膜材料采用普通衍射所获样品X射线衍射谱线中基底材料的特征衍射峰一般较强,尤其是结晶程度好的单晶硅、陶瓷等基底;由于薄膜材料与基底的含量之比悬殊,常使薄膜样品XRD图谱中膜层的特征衍射峰强度很弱,甚至缺失;这给薄膜样品的物相、晶粒度大小、晶胞参数等分析带来了很大的困难。因此,使X射线在照射样品时以一很小的角度,增大了膜的信息,而极大减少基底的信息。当然,还有测试反射率、厚度的用途,称为XRR,楼上可以查阅相关的文献再消息了解。 小角散射看 吉林科学技术出版社 孟昭富 的《小角X射线散射理论及应用》 |
6楼2008-11-12 14:23:56

7楼2008-11-12 14:50:09
liuhaifeng7758
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8楼2008-11-12 16:30:41














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