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sungjen

银虫 (著名写手)

[求助] XRD及TEM样品制备

想做一个涂层断面的分析,主要是想看晶相,请问样品怎么制备呢?如果用XRD的话是不是不准呢 ?用FIB直接切割是不是更好一些,用·TEM观察的样品还有别的方法制备吗
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天道有常

木虫 (著名写手)

想要知道是什么相,直接用XRD就可以确定。TEM主要是分析微区,如果样品很少的话可以用TEM。就是制样比较麻烦,FIB还好,切出来的样品做衍射还是挺好的,看高分辨没有手工打磨的好。手工打磨就是先用砂纸磨,到50微米左右,再用离子剪薄仪处理。

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好好做科研
2楼2015-11-27 19:38:36
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sungjen

银虫 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 天道有常 at 2015-11-27 19:38:36
想要知道是什么相,直接用XRD就可以确定。TEM主要是分析微区,如果样品很少的话可以用TEM。就是制样比较麻烦,FIB还好,切出来的样品做衍射还是挺好的,看高分辨没有手工打磨的好。手工打磨就是先用砂纸磨,到50微米 ...

多谢啊,我之前试过XRD,但是效果不是很明显,因为观察的区域是一个薄层,操作员还让把观察的那个面抛光,我不知道这种处理好不好,我看到有人说用XPS,我主要是想看这两种种界面有没有新的物质生成,也就是说这两种单质有没有化学反应

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希望有一天成为大神
3楼2015-11-28 20:52:39
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