| 查看: 782 | 回复: 2 | ||
[求助]
XRD及TEM样品制备
|
| 想做一个涂层断面的分析，主要是想看晶相，请问样品怎么制备呢？如果用XRD的话是不是不准呢 ？用FIB直接切割是不是更好一些，用·TEM观察的样品还有别的方法制备吗 |
回复此楼» 猜你喜欢
江西科技师范大学物理化学课题组接收调剂生，12点开启，速来
已经有0人回复
-
【2026 考研调剂】哈尔滨工程大学 招收学硕调剂生（英语一、数学一）
已经有0人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有102人回复
-
四川轻化工大学化学与环境工程学院 付昱教授课题组招收调剂硕士研究生
已经有11人回复
-
大连化物所招收有机背景的博士候选人
已经有0人回复
-
在MOF中，有没有羧基参加配位的情况
已经有2人回复
-
招2026年入学上海交通大学博士生，急！！！
已经有1人回复
-
理论计算合作
已经有0人回复
|
想要知道是什么相，直接用XRD就可以确定。TEM主要是分析微区，如果样品很少的话可以用TEM。就是制样比较麻烦，FIB还好，切出来的样品做衍射还是挺好的，看高分辨没有手工打磨的好。手工打磨就是先用砂纸磨，到50微米左右，再用离子剪薄仪处理。 发自小木虫Android客户端 |
2楼2015-11-27 19:38:36
|
多谢啊，我之前试过XRD，但是效果不是很明显，因为观察的区域是一个薄层，操作员还让把观察的那个面抛光，我不知道这种处理好不好，我看到有人说用XPS，我主要是想看这两种种界面有没有新的物质生成，也就是说这两种单质有没有化学反应 发自小木虫Android客户端 |
3楼2015-11-28 20:52:39
5