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shuangyeu5铁杆木虫 (著名写手)
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关于霍尔测试的问题 已有1人参与
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关于半导体薄膜的霍尔测试,是在试验片一面上焊上4个电极,那么测试的厚度是如何界定的? 如果使用分子束外延的方法生长薄膜材料,而衬底不是绝缘的,那么测试的是整个片的Hall特性还是只有薄膜的?(薄膜载流子浓度比衬底高3个量级) 类似的情况,如果生长了pn结,那么测试的是最上面一层还是整个结的平均值? |
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sjl1218
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- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
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