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shuangyeu5铁杆木虫 (著名写手)
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关于霍尔测试的问题 已有1人参与
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关于半导体薄膜的霍尔测试，是在试验片一面上焊上4个电极，那么测试的厚度是如何界定的？ 如果使用分子束外延的方法生长薄膜材料，而衬底不是绝缘的，那么测试的是整个片的Hall特性还是只有薄膜的？（薄膜载流子浓度比衬底高3个量级） 类似的情况，如果生长了pn结，那么测试的是最上面一层还是整个结的平均值？ |
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sjl1218
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- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
2楼2015-08-25 16:01:42
3楼2015-09-22 16:25:06