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求助,用SEM和DLS测样品晶型和粒径问题 已有2人参与
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大家好,我近期用SEM测样品晶型和粒径,操作主要是冷冻干燥或者离心后真空干燥样品后,研磨,弄到导电胶上交给分析测试中心喷金等,我扫的SEM结果总是团聚在一块,大家有没有什么好办法能使样品分散开能更好地看晶型? SEM图样品粒径都没法均匀,有纳米级和微米级的,我理想的样品粒径是20um-40um之间,有没有什么办法去掉不要的杂质或者更小粒径的样品?我看有的帖子说过滤,我的粒径有些大,用真空抽滤滤不过去,留在滤纸上黏糊糊不好干燥,不知道有没有什么合适的滤膜能滤过,使样品直接分散在滤液里?还有就是我总感觉用SEM测得的粒径没法代表整个样品的粒径分布,大家有没有什么好的办法?如果用DLS测粒径分布,样品需要怎么处理?是制备成溶液还是粉末的? 希望各位能帮忙解答!谢谢! |
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zhongliujishui
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5楼2015-12-11 22:51:36
debiao-yang
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