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求助，用ＳＥＭ和ＤＬＳ测样品晶型和粒径问题 已有2人参与
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大家好，我近期用ＳＥＭ测样品晶型和粒径，操作主要是冷冻干燥或者离心后真空干燥样品后，研磨，弄到导电胶上交给分析测试中心喷金等，我扫的ＳＥＭ结果总是团聚在一块，大家有没有什么好办法能使样品分散开能更好地看晶型？ ＳＥＭ图样品粒径都没法均匀，有纳米级和微米级的，我理想的样品粒径是２０ｕｍ－４０ｕｍ之间，有没有什么办法去掉不要的杂质或者更小粒径的样品？我看有的帖子说过滤，我的粒径有些大，用真空抽滤滤不过去，留在滤纸上黏糊糊不好干燥，不知道有没有什么合适的滤膜能滤过，使样品直接分散在滤液里？还有就是我总感觉用ＳＥＭ测得的粒径没法代表整个样品的粒径分布，大家有没有什么好的办法？如果用ＤＬＳ测粒径分布，样品需要怎么处理？是制备成溶液还是粉末的？ 希望各位能帮忙解答！谢谢！ |
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 薄膜制备与特性 |
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4楼2015-12-09 14:30:25
debiao-yang
铁杆木虫 (著名写手)
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ldbl2楼2015-08-04 15:44:09
3楼2015-08-05 22:50:41
zhongliujishui
铜虫 (初入文坛)
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5楼2015-12-11 22:51:36