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50837904

金虫 (小有名气)

[交流] 【求助】急问关于1um左右溶胶膜层,薄膜XRD测不出 是什么原因

我采用溶胶凝胶法 提拉技术 在金属基体上制备复合薄膜,底层为一种氧化物薄膜,外层为另一种氧化物薄膜,采用台阶仪测试膜厚,膜层不均匀,总的膜厚平均在1um左右,底层也是600-700nm左右,外层膜厚600-700nm左右,采用帕纳科公司的x pro系列衍射仪,但是薄膜XRD只测出很弱的底层物质的一个特征峰,外层物质没有测出来,基体的峰很强,
同时我做过粉末衍射,两种物质均为氧化物状态,且峰明显。
想问一下侧不出来的原因,是我的膜层不致密吗 还是厚度不均匀,谢谢各位虫虫了。

[ Last edited by FLY_Phoenix on 2008-7-23 at 07:34 ]
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50837904

金虫 (小有名气)

谢谢大家的解释  直到现在我还是没有解决,今天又分析了一下粉末衍射的数据 外层膜层的结晶度比较低 会不会是这个原因造成的呀
楼上的说的这个原因是不是X射线管电流电压加大,就能测出一些峰来呀

[ Last edited by 50837904 on 2008-7-25 at 01:07 ]
9楼2008-07-24 23:35:54
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muruige1213

禁虫 (正式写手)


SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢交流
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2楼2008-07-22 19:50:49
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50837904

金虫 (小有名气)

我就是用的薄膜模式 但是还是侧不出来呀
3楼2008-07-22 23:04:40
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Tavano

铁杆木虫 (正式写手)


SHY31(金币+1,VIP+0):谢谢交流
在低角区(20-40度)有没有半高宽很宽的包?如果有说明不是没测出来,是你的最外层的膜主要为非晶态。如果也没有应该是你的膜太薄了,膜的衍射信号相对于基体太弱了。
4楼2008-07-22 23:10:52
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