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opna

新虫 (初入文坛)

[求助] 纳米铁做XPS表征 C含量异常高 为什么 已有5人参与

合成纳米铁 尺寸大概6-7nm 去除水体六价铬后去做xps表征产物 各元素含量如下:
O: 23.97% C: 75.35%  Fe 2p: 0.18% Cr 2p: 0.50%
铁和铬含量都很低 C的含量特别高 不知道是什么原因 求指教
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geqingqin

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
XPS因为是电子能谱手段,探测的是最后出射的电子信息,电子在材料内部逃逸深度在几个nm的尺度,因此XPS技术探测深度在几个nm到10个nm左右。而你制备的样品如果没有好好保存的话,基本上都会有很严重的表面C污染。所以你看到的这些C含量很有可能并不是你材料本身含有的,是表面污染。

而你如果做EDS等技术探测的是出射X光信息,在材料表面逃逸深度达到微米尺度,因此探测深度在几个微米甚至更深,就不会出现这些问题。

注意C污染是存在表面的,而XPS探测的信息主要来自于表面。
我为回答问题而来
4楼2015-04-01 23:27:02
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lulufan

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
是不是所用ligand里面的碳啊?
2楼2015-04-01 22:36:28
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opna

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by lulufan at 2015-04-01 22:36:28
是不是所用ligand里面的碳啊?

那也太高了吧 我纳米铁是用乙二醇做溶剂 PVP作稳定剂合成的 而且怎么Fe和Cr的量这么低 感觉不太对呢
3楼2015-04-01 23:00:33
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lulufan

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

引用回帖:
3楼: Originally posted by opna at 2015-04-02 01:00:33
那也太高了吧 我纳米铁是用乙二醇做溶剂 PVP作稳定剂合成的 而且怎么Fe和Cr的量这么低 感觉不太对呢...

主要是XPS是一个表面探测技术,测出来的含量不能代表整体样品。你要真想知道含量,可以做ICP和元素分析。
5楼2015-04-02 06:17:51
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