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纳米铁做XPS表征 C含量异常高 为什么
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opna
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纳米铁做XPS表征 C含量异常高 为什么
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合成纳米铁 尺寸大概6-7nm 去除水体六价铬后去做xps表征产物 各元素含量如下:
O: 23.97% C: 75.35% Fe 2p: 0.18% Cr 2p: 0.50%
铁和铬含量都很低 C的含量特别高 不知道是什么原因 求指教
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【请教】XPS测试中C峰的问题
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1楼
2015-04-01 21:58:07
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XPS因为是电子能谱手段,探测的是最后出射的电子信息,电子在材料内部逃逸深度在几个nm的尺度,因此XPS技术探测深度在几个nm到10个nm左右。而你制备的样品如果没有好好保存的话,基本上都会有很严重的表面C污染。所以你看到的这些C含量很有可能并不是你材料本身含有的,是表面污染。
而你如果做EDS等技术探测的是出射X光信息,在材料表面逃逸深度达到微米尺度,因此探测深度在几个微米甚至更深,就不会出现这些问题。
注意C污染是存在表面的,而XPS探测的信息主要来自于表面。
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4楼
2015-04-01 23:27:02
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5楼
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lulufan
at 2015-04-02 06:17:51
主要是XPS是一个表面探测技术,测出来的含量不能代表整体样品。你要真想知道含量,可以做ICP和元素分析。...
我主要就是想看一下表面存在的Fe和Cr是什么价态 但是发现碳含量那么高 而铁和Cr那么少 所以有些疑问
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7楼
2015-04-02 08:52:13
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是不是所用ligand里面的碳啊?
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2015-04-01 22:36:28
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2楼
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lulufan
at 2015-04-01 22:36:28
是不是所用ligand里面的碳啊?
那也太高了吧 我纳米铁是用乙二醇做溶剂 PVP作稳定剂合成的 而且怎么Fe和Cr的量这么低 感觉不太对呢
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3楼
2015-04-01 23:00:33
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3楼
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Originally posted by
opna
at 2015-04-02 01:00:33
那也太高了吧 我纳米铁是用乙二醇做溶剂 PVP作稳定剂合成的 而且怎么Fe和Cr的量这么低 感觉不太对呢...
主要是XPS是一个表面探测技术,测出来的含量不能代表整体样品。你要真想知道含量,可以做ICP和元素分析。
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5楼
2015-04-02 06:17:51
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geqingqin
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XPS因为是电子能谱手段,探测的是最后出射的电子信息,电子在材料内部逃逸深度在几个nm的尺度,因此XPS技术探测深度在几个nm到10个nm左右。而你制备的样品如果没有好好保存的话,基本上都会有很严重的表面C污染。所 ...
万分感谢 那是不是我测出来的这个数据就不太准确了 如果我想用来说明表面所含元素是不是不可靠?我在写毕业论文,马上就要提交了 所以重新做来不及了
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xps的优势是表面敏感,化学态识别!!这是他的优势,当你要研究这些信息的时候,xps十分强大。做科研这么多年,人做闷掉了?数据没有什么准不准的概念,看给你什么信息
[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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2015-04-02 09:14:55
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XPS测试的时候需要加入元素碳(284.6eV)作为内标来校正其他元素的结合能位置啊。碳含量高是很正常的嘛。自己重新算一次除碳以外其他元素的比例吧。
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很有可能是碳酸盐
[ 发自小木虫客户端 ]
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