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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 金属 » 测试表征 » 非晶薄带做TEM如何制样
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拉宝宝拉

铁虫 (初入文坛)

[求助] 非晶薄带做TEM如何制样 已有3人参与

RT，最近想拍一组非晶样品的TEM，样品宽度约为1mm，均在晶化温度下退火过，本来想打算用离子减薄制样，但是担心制样过程中会影响内部一些结构，所以想问应高怎眼制样比较合适？
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1楼 2015-03-31 10:53:12
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拉宝宝拉

铁虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by zcy198802 at 2015-03-31 11:04:30
电解双喷仪，离子减薄仪，主要就是这些方式了吧

直接这样做的话，样品是不符合要求的，需要再处理
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3楼2015-03-31 20:42:20
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zcy198802

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
电解双喷仪，离子减薄仪，主要就是这些方式了吧
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2楼2015-03-31 11:04:30
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llm3136

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
拉宝宝拉: 金币+5, ★有帮助 2015-04-03 10:24:51
FIB（Focused Ion beam)聚焦等离子束切样，对内部结构的影响应该会比较小。
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4楼2015-04-02 19:24:57
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wsq_7710

木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
手工研磨到100um，要用水砂纸加水，防止过热晶化，然后液氮下离子减薄，应该可以
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5楼2015-04-02 19:49:03
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