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拉宝宝拉

铁虫 (初入文坛)

[求助] 非晶薄带做TEM如何制样 已有3人参与

RT,最近想拍一组非晶样品的TEM,样品宽度约为1mm,均在晶化温度下退火过,本来想打算用离子减薄制样,但是担心制样过程中会影响内部一些结构,所以想问应高怎眼制样比较合适?
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zcy198802

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
电解双喷仪,离子减薄仪,主要就是这些方式了吧
2楼2015-03-31 11:04:30
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拉宝宝拉

铁虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by zcy198802 at 2015-03-31 11:04:30
电解双喷仪,离子减薄仪,主要就是这些方式了吧

直接这样做的话,样品是不符合要求的,需要再处理
3楼2015-03-31 20:42:20
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llm3136

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
拉宝宝拉: 金币+5, 有帮助 2015-04-03 10:24:51
FIB(Focused Ion beam)聚焦等离子束切样,对内部结构的影响应该会比较小。
4楼2015-04-02 19:24:57
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wsq_7710

木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
手工研磨到100um,要用水砂纸加水,防止过热晶化,然后液氮下离子减薄,应该可以
5楼2015-04-02 19:49:03
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静哥哥

铁杆木虫 (著名写手)

fib切割或者超薄切片,看你啥样品了

[ 发自小木虫客户端 ]
新手变成老手
6楼2015-04-02 20:08:45
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