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如何测量金属氧化物半导体IGZO薄膜中H含量? 已有3人参与
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在玻璃衬底上磁控溅射生长了一层金属氧化物IGZO薄膜(靶材IGZO,通Ar/O2),向各位请教用什么方法测量薄膜中氢含量? 本人初到论坛,还望各位前辈赐教。万谢! |
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14楼2018-01-31 14:47:34
2楼2015-03-20 13:47:51

3楼2015-03-20 15:30:21
gxytju2008
专家顾问 (文坛精英)
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- 专业: 材料物理化学
- 管辖: 微米和纳米
4楼2015-03-20 19:33:01












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