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电子显微镜分析（Electron Microscopy and Analysis，第三版）
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Electron Microscopy and Analysis Author(s): Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland Publisher: Taylor & Francis Year: 2000 Edition: 3 Language: English Pages: 254 Electron Microscopy and Analysis deals with several sophisticated techniques for magnifying images of very small objects by large amounts - especially in a physical science context. It has been ten years since the last edition of Electron Microscopy and Analysis was published and there have been rapid changes in this field since then. The authors have vastly updated their very successful second edition, which is already established as an essential laboratory manual worldwide, and they have incorporated questions and answers in each chapter for ease of learning. Equally as relevant for material scientists and bioscientists, this third edition is an essential textbook.  目录：    4.jpg |
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本内容由用户自主发布，如果其内容涉及到知识产权问题，其责任在于用户本人，如对版权有异议，请联系邮箱：xiaomuchong@tal.com - 附件 1 : Electron_Microscopy_and_Analysis.pdf
- 附件 2 : Electron_Microscopy_and_Analysis.pdf
2015-01-10 08:51:29, 19.58 M
2015-01-10 08:52:16, 19.58 M
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33楼2015-01-13 04:28:26
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xiaoshm2楼
2015-01-10 09:16
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lwg33楼
2015-01-10 09:37
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casclzb7楼
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