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扫描电子显微镜实践手册：电子和离子探针分析（英文版）
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Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Author(s): J. I. Goldstein, H. Yakowitz, D. E. Newbury (auth.), Joseph I. Goldstein, Harvey Yakowitz (eds.) Publisher: Springer US Year: 1975 Language: English Pages: 597 Table of contents : Content: Front Matter....Pages i-xviii Introduction....Pages 1-19 Electron Optics....Pages 21-48 Electron Beam-Specimen Interaction....Pages 49-94 Image Formation in the Scanning Electron Microscope....Pages 95-148 Contrast Mechanisms of Special Interest in Materials Science....Pages 149-210 Specimen Preparation, Special Techniques, and Applications of the Scanning Electron Microscope....Pages 211-262 X-Ray Spectral Measurement and Interpretation....Pages 263-297 Microanalysis of Thin Films and Fine Structure....Pages 299-326 Methods of Quantitative X-Ray Analysis Used in Electron Probe Microanalysis and Scanning Electron Microscopy....Pages 327-372 Computational Schemes for Quantitative X-Ray Analysis: On-Line Analysis with Small Computers....Pages 373-400 Practical Aspects of X-Ray Microanalysis....Pages 401-434 Special Techniques in the X-Ray Analysis of Samples....Pages 435-489 Biological Applications: Sample Preparation and Quantitation....Pages 491-527 Ion Microprobe Mass Analysis....Pages 529-572 Back Matter....Pages 573-582 |
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