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446739074

新虫 (初入文坛)

[求助] 锂电改性,如何证明是掺杂而非包覆?需要哪些测试分析? 已有4人参与

我做的是Ce掺杂三元锂离子电池正极材料,审稿意见如下:“If the Ce is doped in the sample, how to identify the amount of Ce on the sample? How to identify whether Ce is doped on the sample or not?  If the amount of Ce is very small, it could be also coated on the sample rather than doping.  The authors showed the XRD pattern to prove the Ce doping effect, but do you have other measurement or evidences for the doping effect.” 我只做了XRD测试,晶胞参数分析发现了变化,但审稿人认为不够。请问我应该从哪些方面下手去解释,或者我应该补做些什么测试可以充分证明是掺杂而非包覆?
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落叶满长安

至尊木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

如果想证明包覆那就做一下TEM。但是你是掺杂,可以考虑下做个TEM说明不是包覆。
2楼2014-12-01 20:59:03
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ouxiuqin

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
446739074: 金币+5 2015-06-02 11:56:59
掺杂引起晶体结构变化---晶胞参数改变,对XRD图谱的Rietveld分析可说明掺杂与否。
包覆不引起晶体结构变化,异质物质存在于晶体表面,可能引起表面性能的变化(晶体结构未变)。
3楼2015-01-04 15:25:30
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yinhegu

银虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
446739074: 金币+5 2015-06-02 11:56:51
能否用FIB-SEM-EDX将颗粒切开看看元素分布?或者是XPS轰击看看Ce元素的位置?
4楼2015-01-04 17:22:14
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ywuweizi

版主 (著名写手)

【答案】应助回帖

XPS可以检测样品的掺杂
5楼2016-11-15 09:30:32
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pavilion123

木虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by yinhegu at 2015-01-04 17:22:14
能否用FIB-SEM-EDX将颗粒切开看看元素分布?或者是XPS轰击看看Ce元素的位置?

含量随轰击深度变化
6楼2016-11-15 09:51:19
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