| 查看: 1171 | 回复: 7 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
[求助]
XPS和AES在做薄膜成分分析时的精确度问题 已有2人参与
|
|||
| 有两个样品A和B，同时做了XPS测试和AES测试来分析TaN薄膜的成分，即Ta和N的比例。TaN薄膜有30nm。令成分含量N/Ta=x，用XPS方法测试出来的结果显示xA(1.16)<xB(1.33),用AES方法测出来的xA(1.35)>xB(1.23)，这两个结果哪个可信呢？我没有金币了…………请大家指点指点！多谢！ |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 薄膜器件的制备与表征 |
» 猜你喜欢
太阳能界面蒸发协同发电
已经有2人回复
-
国家级高层次人才低维材料与器件力学团队招收博士研究生
已经有10人回复
-
有机高分子材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有110人回复
-
结晶态硅酸钠中硅含量测定
已经有2人回复
-
硅肥中硅含量测定
已经有1人回复
-
南开大学杰青团队 招收理论计算方向 2026级博士生
已经有4人回复
-
中国科学院赣江创新研究院水下信息技术中心团队人才招聘
已经有0人回复
-
中国科学院赣江创新研究院水下信息技术中心人才招聘
已经有0人回复
-
求助内蒙古工业大学 代码：811 物理化学 2025年考试真题
已经有0人回复
-
新加坡南洋理工大学招聘博士后（固态电池，固体离子导体，转化正极方向）
已经有15人回复
-
北京工业（211）课题组收博士
已经有0人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 关于元素的定量分析
已经有5人回复
- 大家说说EDS分析准不准
已经有29人回复
- 【求助】关于XPS和EDS比较
已经有14人回复
★ ★ ★
Y山己几: 金币+3, ★有帮助, 我说的定量就是相对含量。我的提问是”哪个精确度更高一些？“您的回答是”这两个都不行，根本不能这么测“。我了解的情况是某国际知名半导体设备公司就是这么测的。 2014-11-17 15:36:11
Y山己几: 金币+3, ★有帮助, 我说的定量就是相对含量。我的提问是”哪个精确度更高一些？“您的回答是”这两个都不行，根本不能这么测“。我了解的情况是某国际知名半导体设备公司就是这么测的。 2014-11-17 15:36:11
|
本帖内容被屏蔽 |
8楼2014-11-17 09:24:16
感谢参与，应助指数 +1
|
本帖内容被屏蔽 |
2楼2014-11-14 17:52:00
|
本帖内容被屏蔽 |
3楼2014-11-14 17:56:50
598878157
版主 (文学泰斗)
rky
- 应助: 368 (硕士)
- 贵宾: 3.087
- 金币: 103397
- 散金: 21
- 红花: 155
- 帖子: 58317
- 在线: 1140.2小时
- 虫号: 614840
- 注册: 2008-09-28
- 性别: GG
- 专业: 固体无机化学
- 管辖: 外语学习
4楼2014-11-16 09:43:19