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muoumaoodou

金虫 (小有名气)

[求助] 紫外可见测试 LaAlO3基片扣背景问题已有2人参与

在 LaAlO3基片上镀了二氧化钛薄膜,用分光光度计测紫外可见吸收的时候,先放了一个 LaAlO3基片走了baseline,然后放了镀膜的样品测试。但测得的图谱吸收边居然到了350nm,二氧化钛的带隙是3.2eV左右,吸收边应该在380附近,怎么会退回去了呢?我猜想会不会是背景没有扣好?还是其他什么原因?望高人指点!!!!!!

紫外可见测试  LaAlO3基片扣背景问题
波长-吸收.jpg
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羽千结

铜虫 (小有名气)

引用回帖:
6楼: Originally posted by muoumaoodou at 2014-11-13 11:42:32
是会有的,可能是扣基底的方式不对?,不太清楚,还要再试一下,你是怎么扣基底的?...

还有 衬底的有可能会对光有吸收 你先看看衬底的材料是否对你测的波段完全透过
10楼2014-12-02 10:49:57
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muoumaoodou

金虫 (小有名气)

谢谢,我测得是紫外可见分光光度计,不是XRD的
2楼2014-11-05 14:47:43
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羽千结

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
muoumaoodou: 金币+3, 有帮助 2014-11-13 14:47:10
muoumaoodou: 金币+2, ★★★很有帮助 2014-11-17 15:25:27
我有做过类似的工作,但是不知道你用的基底材料,你是否应该考虑下基底材料会不会对其有影响
3楼2014-11-06 16:06:46
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ruochengfeng

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
可以试试看不放基片,先用空气扫一遍baseline,再分别测试LaALO3基片和镀膜样品的吸收率,可以排除一些衬底的影响
4楼2014-11-07 11:12:29
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