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紫外可见测试 LaAlO3基片扣背景问题已有2人参与
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在 LaAlO3基片上镀了二氧化钛薄膜，用分光光度计测紫外可见吸收的时候，先放了一个 LaAlO3基片走了baseline，然后放了镀膜的样品测试。但测得的图谱吸收边居然到了350nm，二氧化钛的带隙是3.2eV左右，吸收边应该在380附近，怎么会退回去了呢？我猜想会不会是背景没有扣好？还是其他什么原因？望高人指点！！！！！！ 波长-吸收.jpg |
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