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紫外可见测试 LaAlO3基片扣背景问题 已有2人参与
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在 LaAlO3基片上镀了二氧化钛薄膜,用分光光度计测紫外可见吸收的时候,先放了一个 LaAlO3基片走了baseline,然后放了镀膜的样品测试。但测得的图谱吸收边居然到了350nm,二氧化钛的带隙是3.2eV左右,吸收边应该在380附近,怎么会退回去了呢?我猜想会不会是背景没有扣好?还是其他什么原因?望高人指点!!!!!! 波长-吸收.jpg |
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