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vincent9277铁虫 (小有名气)
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如何表征硅芯片OISF( Oxidation Induced Stacking Fault)
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大家是否知道这种缺陷如何测试，有哪家单位可以做？主要想看下芯片漏电点内部是否有这种位错缺陷。 谢谢 |
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zhongzheng01
铁杆木虫 (文坛精英)
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2楼2014-10-29 10:29:19