| 查看: 1039 | 回复: 1 | |||
vincent9277铁虫 (小有名气)
|
[求助]
如何表征硅芯片OISF( Oxidation Induced Stacking Fault)
|
|
大家是否知道这种缺陷如何测试，有哪家单位可以做？主要想看下芯片漏电点内部是否有这种位错缺陷。 谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
本人考085602 化学工程 专硕
已经有23人回复
-
求调剂院校信息
已经有4人回复
-
085600材料与化工306
已经有4人回复
-
286求调剂
已经有10人回复
-
328求调剂，英语六级551，有科研经历
已经有9人回复
-
一志愿北京化工大学070300 学硕336求调剂
已经有4人回复
-
286分人工智能专业请求调剂愿意跨考！
已经有8人回复
-
资源与环境 调剂申请(333分)
已经有5人回复
-
280求调剂
已经有12人回复
-
269专硕求调剂
已经有5人回复
zhongzheng01
铁杆木虫 (文坛精英)
- 应助: 32 (小学生)
- 金币: 9202.1
- 散金: 398
- 红花: 16
- 帖子: 10987
- 在线: 210.8小时
- 虫号: 3133002
- 注册: 2014-04-13
- 性别: GG
- 专业: 生化分析及生物传感
2楼2014-10-29 10:29:19
