| 查看: 1067 | 回复: 1 | ||
vincent9277铁虫 (小有名气)
|
[求助]
如何表征硅芯片OISF( Oxidation Induced Stacking Fault)
|
|
大家是否知道这种缺陷如何测试，有哪家单位可以做？主要想看下芯片漏电点内部是否有这种位错缺陷。 谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
准备明年的基金了
已经有8人回复
-
什么时候能放榜呀？
已经有3人回复
-
一个有机合成实验室都需要哪些设备？
已经有8人回复
-
UV压敏胶开发
已经有5人回复
-
面上提前没消息，有中的吗
已经有16人回复
-
面上再次挂了，太难了，躺也躺不了，倦也卷不过，小学校之殇！
已经有25人回复
-
2026年国自然面上资助率
已经有22人回复
-
基础研究怎么拉横向，学校到款任务越来越多，难以完成 拉横向，都有哪些途径啊
已经有12人回复
-
微信指数没变化，科研之友没阅读
已经有19人回复
-
2027年申博
已经有3人回复
zhongzheng01
铁杆木虫 (文坛精英)
- 应助: 32 (小学生)
- 金币: 9202.1
- 散金: 398
- 红花: 16
- 帖子: 10987
- 在线: 210.8小时
- 虫号: 3133002
- 注册: 2014-04-13
- 性别: GG
- 专业: 生化分析及生物传感
2楼2014-10-29 10:29:19