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liwentao2010

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houyong: 金币+30, ★★★★★最佳答案, 谢谢帮助。。想请问一下那个硅测量的用处是什么。。我的东西里应该没有这元素。。我计算的时候是不是不用计算这个元素？ 2014-09-11 16:34:41

XPS能谱测试一般包括两部分全谱扫描和局部扫描（单一元素某层电子的能谱，如上面的O/NCu等），并且测试完后数据中会给出表面上所测得单一元素的含量。而窄谱（如上面的能谱图）用于分析单一元素与周围环境的作用情况，用作定性分析或者半定量分析。
楼主说的Cu2P能谱上有多个峰，估计与Fe2P(Fe1/2p,Fe3/2P)谱图类似，可以借用XPS分峰软件分析Cu元素的结合能存在形式。
绿线属于背景底线，很少用。
XPS测定的Cu2p含量只是表面的，不是全部的，一般会根据能谱数据，经特殊处理积分得到，一般测试数据中都会给出其含量。

加油！

2楼2014-09-11 08:18:14

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我看过楼主的实验数据，没有含量数据，建议找到测试地方，让他帮你处理一下，得到含量数据。只知道含量是根据能谱积分得到的，但是自己没有尝试着计算过。

加油！

3楼2014-09-11 08:22:52

liwentao2010

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引用回帖:

2楼: Originally posted by liwentao2010 at 2014-09-11 08:18:14
XPS能谱测试一般包括两部分全谱扫描和局部扫描（单一元素某层电子的能谱，如上面的O/NCu等），并且测试完后数据中会给出表面上所测得单一元素的含量。而窄谱（如上面的能谱图）用于分析单一元素与周围环境的作用情况 ...

你看看全谱中有没有，若是有，估计样品中就含有。你可以去问问测试老师。

加油！

4楼2014-09-11 22:59:58

frank_cheng

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houyong: 金币+40, ★★★★★最佳答案 2014-09-19 09:47:39

时间关系帮您弄了其中一个

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5楼2014-09-12 04:15:12

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引用回帖:

5楼: Originally posted by frank_cheng at 2014-09-12 04:15:12
时间关系帮您弄了其中一个

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你好，你是用什么软件分峰的？是XPSPEAK软件还是Origin软件呢？

6楼2015-04-16 20:33:05