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XRD测试技术
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| 样品是薄膜，厚度在200nm左右， 常规的θ/2θ只能测出衬底的衍射峰，但是小角掠射能测出我要的信号，请问这是怎么回事啊，文献中很少使用小角掠射的图片是为什么啊 |
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