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beibeilover

银虫 (小有名气)

[求助] 如何计算缺陷的能级 已有1人参与

刚接触第一性原理计算,对半导体中的缺陷研究感兴趣。很疑惑一个问题,如何获得半导体中缺陷或杂质的准确能级位置?如用vasp计算的话,是在 EIGENVAL中获得么,还是通过态密度分析获得?请教具体的操作步骤,或给出例子,不胜感激!
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灯塔守望者

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
beibeilover: 金币+5, ★★★很有帮助, 感谢提供的资料,很有用 2014-04-19 07:25:19
franch: 金币+2, 谢谢回帖交流。。 2014-04-21 23:30:36
看看Chris G. Van de Walle, Suhuai Wei或Alex Zunger的文章。另推荐一篇最近发表在RMD上关于采用第一性原理计算缺陷性质的综述文献,希望对你有用!

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  • 附件 1 : RevModPhys.86.253.pdf
  • 2014-04-18 16:36:26, 1.84 M
2楼2014-04-18 16:37:35
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